IC測試座主要就是用於檢查在線的單個IC元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開、短路情況，以及模擬器件作用和數(shù)字器件邏輯作用測試。用戶就是測試期間在惡劣的環(huán)境條件下能完全實現(xiàn)設(shè)計規(guī)格書所規(guī)定的作用及性能指標(biāo)。簡單點的說就是測試芯片的合格程度。

用于IC封裝后的測試的IC測試座，主要包含有互相組配的上蓋板(contactblade)與基座(icsocket)。IC測試座在較佳的實施狀態(tài)中，是用于影像傳感器(ImageSensor)中的陶瓷式引線芯片載體的封裝測試。

IC測試座的特征在于上蓋板(contactblade)的內(nèi)部容設(shè)有一通孔，并在鄰近通孔附近設(shè)置有復(fù)數(shù)個測試探針，用以接觸待測IC，且在各測試探針的內(nèi)部則容設(shè)有測試彈簧。測試探針是以環(huán)繞通孔的方式設(shè)置。