IC測(cè)試座(測(cè)試插座)是對(duì)在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備。那么IC測(cè)試座在設(shè)計(jì)上有什么優(yōu)勢(shì)呢？

IC測(cè)試座設(shè)計(jì)上精巧穩(wěn)固獨(dú)特，體積小，能適應(yīng)任何主板元件高密集度的需求。

采用旋蓋式固定BGA，更有利于分散測(cè)試座與PCB板焊接受力，大大提高連接的可靠性及使用壽命，且固定蓋是用鋁合金材料制作，可有效散熱,提高了測(cè)試的效果。固定芯片時(shí)采用旋緊式蓋法，更好地緩沖了測(cè)試座與電路板的連接壓力，就不易造成空焊而使連接更可靠，且人性化的最合理的設(shè)計(jì)使得測(cè)試更加方便快捷，大大地提高了工作效率。電腦主板，顯卡，通訊類，工控類，內(nèi)存DDR1，DDR2，DDR3，數(shù)碼產(chǎn)品等BGA芯片均可測(cè)試。

采用進(jìn)口探針，針的彈性伸縮更順暢，這樣能保證了測(cè)數(shù)達(dá)到兩萬次的壽命。

在設(shè)計(jì)上更是充分考慮到了維護(hù)簡(jiǎn)單快捷，探針可隨意更換；這樣的測(cè)試座無倫在使用上，維修護(hù)上，還是價(jià)格成本上比同類產(chǎn)品都有很大的優(yōu)勢(shì)，絕對(duì)是用戶最佳選擇。